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    1. SIT-200硅晶圓檢測儀采用一臺高速掃頻激光器用于硅晶圓厚度探測。與傳統光學測厚采用寬帶光源不同,可調諧激光器具備非常高的功率譜密度,從而提高了動態范圍;因此,SIT-200支持非拋光晶圓厚度測量,例如在濕刻過程中/濕...
      MLC系列控制模塊用于靈活地控制激光的偏振和強度。采用卡槽式設計,三個卡位可放置半波片、四分之一波片、偏振片卡盤的靈活組合,并可分別精密調節;兩端光纖接口用于光信號輸入輸出。 光學元件卡盤具備清晰的讀數,使得精密調節簡便...
      ADL-200可編程光延時器提供高達2.5ns的可調延時,具備低插損、低損耗起伏的特征,適合各種延遲線應用·2.5ns可調延時·低損耗+低損耗起伏·前面板控制,VFD清晰顯示·USD+GPIBØ技術指標1....
      OMT系列光學多功能測試儀用于光學器件及通訊系統的測試與評價。OMT主機框提供GPIB及Ethernet接口,用于遠程操作和讀取測量模塊。靈活組合的光功率計、衰減器及交換機可根據應用場景構成特定的測試儀器,并可與其他系統...
      FOTDR-300 頻分復用相干光時域反射儀(Frequency-Division-Multiplexed Coherent OTDR) 不同于傳統的C-OTDR。它在同一個時間段內發送不同頻率的多個探針脈沖,從而在同樣...
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